DOST führt neue Nanomaßstab-Analysegeräte für die Materialforschung und Defekterkennung ein

Das Ministerium für Wissenschaft und Technologie (DOST) hat neue Geräte vorgestellt, die in der Lage sind, Materialien zu analysieren und Defekte im Nanometerbereich zu erkennen, mit dem Ziel, Unternehmen dabei zu helfen, die Produktqualität zu verbessern und die Produktion elektronischer Geräte zu steigern.

Das neu angeschaffte Gerät mit der Bezeichnung Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) im Advanced Device and Materials Testing Laboratory (ADMATEL) in Bicutan, Taguig, wird zusammen mit Energy Dispersive X-ray (EDX)- und Electron Backscatter Diffraction (EBSD)-Analysatoren eingesetzt, um die Kapazitäten der Einrichtung bei der Materialprüfung und Fehleranalyse zu erweitern.

DOST-Sekretär Renato U. Solidum Jr. erklärte, das Gerät stärke die fortgeschrittenen Forschungs- und Fertigungskapazitäten des Landes, da es Materialien im Nanometerbereich erkennen könne.

„Diese Technologie ermöglicht die präzise Charakterisierung von Nanopartikeln, Nanoröhren und fortschrittlichen Materialien sowie die detaillierte Analyse von Dünnschichten und Mehrschichtbeschichtungen, die für moderne Technologien unerlässlich sind", sagte Herr Solidum in einer Erklärung.

Zu den potenziellen Nutzern zählen Halbleiterunternehmen, akademische Einrichtungen und Forschungsorganisationen sowie solche, die biologische Proben und fortschrittliche Nanomaterialien analysieren.

„Es befähigt unsere lokalen Unternehmen, nicht nur Probleme zu beheben, sondern von Anfang an bessere und zuverlässigere Produkte zu entwickeln", sagte Herr Solidum und fügte hinzu, dass die Halbleiter- und Elektronikindustrien in der heutigen sich schnell verändernden Technologielandschaft wichtige Treiber des Wirtschaftswachstums bleiben.

Für Danilo C. Lachica, Präsident der Semiconductor and Electronics Industries in the Philippines Foundation, Inc. (SEIPI), ermöglicht das FE-SEM die präzise Untersuchung von Gerätestrukturen, Grenzflächen, Materialverhalten und prozessbedingten Schwankungen, die Leistung und Zuverlässigkeit beeinflussen können.

Er hob auch dessen Bedeutung bei der Defekterkennung, Ursachenanalyse, Prozessverbesserung, Validierung und der Lösung komplexer Zuverlässigkeitsprobleme hervor.

ADMATEL erklärte, es werde weiterhin Prüfdienstleistungen für lokale und internationale Kunden anbieten, und ermutigt Forscher, Industriepartner und Institutionen zur Zusammenarbeit bei der Charakterisierung fortschrittlicher Materialien und der Halbleiteranalyse.

Die Initiative ist Teil der Programme des DOST, die wissenschaftsbasierte, innovative und inklusive Lösungen im Rahmen seiner vier strategischen Säulen – menschliches Wohlbefinden, Schaffung von Wohlstand, Schutz von Wohlstand und Nachhaltigkeit – durch den OneDOST4U-Rahmen fördern. — Edg Adrian A. Eva