DOST lanza nuevo equipo de análisis a nanoescala para investigación de materiales y detección de defectos

El Departamento de Ciencia y Tecnología (DOST) ha presentado un nuevo equipo capaz de analizar materiales y detectar defectos a nanoescala, con el objetivo de ayudar a las empresas a mejorar la calidad de sus productos e impulsar la producción de dispositivos electrónicos.

Denominado Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (FE-SEM), el equipo recientemente adquirido en el Laboratorio Avanzado de Pruebas de Dispositivos y Materiales (ADMATEL) en Bicutan, Taguig, se utilizará junto con los analizadores de Rayos X de Dispersión de Energía (EDX) y Difracción de Retrodispersión de Electrones (EBSD) para mejorar las capacidades de la instalación en pruebas de materiales y análisis de fallos.

El Secretario del DOST, Renato U. Solidum Jr., señaló que el equipo fortalece las capacidades avanzadas de investigación y fabricación del país, ya que puede detectar materiales a nanoescala.

"Esta tecnología permite la caracterización precisa de nanopartículas, nanotubos y materiales avanzados, así como el análisis detallado de películas delgadas y recubrimientos multicapa esenciales para las tecnologías modernas", afirmó el Sr. Solidum en un comunicado.

Entre sus posibles usuarios se encuentran empresas de semiconductores, instituciones académicas y organizaciones de investigación, así como aquellos que analizan muestras biológicas y nanomateriales avanzados.

"Permite a nuestras empresas locales no solo resolver problemas, sino diseñar productos mejores y más confiables desde el inicio", dijo el Sr. Solidum, añadiendo que las industrias de semiconductores y electrónica siguen siendo impulsores clave del crecimiento económico en el panorama tecnológico actual en rápida evolución.

Para el Presidente de la Fundación de Industrias de Semiconductores y Electrónica en Filipinas, Inc. (SEIPI), Danilo C. Lachica, el FE-SEM permite el examen preciso de estructuras de dispositivos, interfaces, comportamiento de materiales y variaciones relacionadas con procesos que pueden afectar el rendimiento y la fiabilidad.

También destacó su importancia en la detección de defectos, el análisis de causa raíz, la mejora de procesos, la validación y la resolución de problemas complejos de fiabilidad.

ADMATEL indicó que continuará proporcionando servicios de pruebas a clientes locales e internacionales, y está alentando a investigadores, socios industriales e instituciones a colaborar en la caracterización avanzada de materiales y el análisis de semiconductores.

La iniciativa forma parte de los programas del DOST que promueven soluciones basadas en la ciencia, innovadoras e inclusivas bajo sus cuatro pilares estratégicos—bienestar humano, creación de riqueza, protección de la riqueza y sostenibilidad—a través del marco OneDOST4U. — Edg Adrian A. Eva