DOST lansează noi echipamente de analiză la nanoscară pentru cercetarea materialelor și detectarea defectelor

Departamentul de Știință și Tehnologie (DOST) a prezentat noi echipamente capabile să analizeze materiale și să detecteze defecte la scară nanometrică, cu scopul de a ajuta companiile să îmbunătățească calitatea produselor și să stimuleze producția de dispozitive electronice.

Denumit Microscop Electronic cu Scanare prin Emisie de Câmp (FE-SEM), echipamentul recent achiziționat de Laboratorul Avansat de Testare a Dispozitivelor și Materialelor (ADMATEL) din Bicutan, Taguig, va fi utilizat împreună cu analizoarele de Dispersie a Energiei Razelor X (EDX) și Difracție a Electronilor Retrodifuzați (EBSD) pentru a îmbunătăți capacitățile facilității în testarea materialelor și analiza defecțiunilor.

Secretarul DOST, Renato U. Solidum Jr., a declarat că echipamentul consolidează capacitățile avansate de cercetare și producție ale țării, deoarece poate detecta materiale la scară nanometrică.

„Această tehnologie permite caracterizarea precisă a nanoparticulelor, nanotuburilor și materialelor avansate, precum și analiza detaliată a peliculelor subțiri și a acoperirilor multistrat esențiale tehnologiilor moderne", a declarat domnul Solidum într-un comunicat.

Printre potențialii utilizatori se numără companiile din domeniul semiconductorilor, instituțiile academice și organizațiile de cercetare, precum și cei care analizează probe biologice și nanomateriale avansate.

„Le oferă companiilor noastre locale puterea nu doar de a rezolva problemele, ci de a proiecta produse mai bune și mai fiabile de la bun început", a spus domnul Solidum, adăugând că industriile semiconductorilor și electronicii rămân motoare-cheie ale creșterii economice în peisajul tehnologic în rapidă schimbare de astăzi.

Pentru președintele Fundației Industriilor de Semiconductori și Electronică din Filipine, Inc. (SEIPI), Danilo C. Lachica, FE-SEM permite examinarea precisă a structurilor dispozitivelor, interfețelor, comportamentului materialelor și variațiilor legate de procese care pot afecta performanța și fiabilitatea.

Acesta a subliniat, de asemenea, importanța sa în detectarea defectelor, analiza cauzelor principale, îmbunătățirea proceselor, validarea și rezolvarea problemelor complexe de fiabilitate.

ADMATEL a declarat că va continua să furnizeze servicii de testare clienților locali și internaționali și încurajează cercetătorii, partenerii din industrie și instituțiile să colaboreze în domeniul caracterizării avansate a materialelor și al analizei semiconductorilor.

Inițiativa face parte din programele DOST care promovează soluții bazate pe știință, inovatoare și incluzive, în cadrul celor patru piloni strategici — bunăstarea umană, crearea de bogăție, protecția bogăției și sustenabilitatea — prin cadrul OneDOST4U. — Edg Adrian A. Eva